高穩定性的晶體元器件晶體單元/晶體振蕩器依照切型主要分為三種：

（1）kHz 級的晶體單元采用音叉型構造振動子；

（2）MHz 級的晶體單元采用 AT 型構造振動子；

    （3）百 MHz 超高頻晶體單元采用 SAW 型振動子，溫度特性曲線和音叉型振動子相似。隨著下游產品 對晶振抗振性、相位噪聲等、尺寸小型化等參數央求越來越高，傳統機械加工的局限性 逐步顯露。

音叉型晶振缺陷：單元尺寸緊縮后將難于獲得良好的振蕩特性。當石英振動子的尺 寸從 1.2×1.0mm 減小到 1.0×0.8mm 時，串聯電阻值（CI 值）會升高 30%左右，也 就是說音叉型晶體單元尺寸緊縮后將難于獲得良好的振蕩特性。

AT切型 迷你小SMD晶振缺陷：傳統機械加工難以滿足嚴厲的公差央求。AT 切割是目前運用最 普遍的石英晶體類型之一，常用于高頻晶振。典型的超小型胚料尺寸小于 3.5*0.63mm， 加工難度大幅增加。大范圍消費小型晶體時，需求將公差控制在 2um 以內，而傳統 機械加工難以滿足嚴厲的公差央求。

超高頻晶振缺陷：屢次倍頻招致相噪損失嚴重。晶振工作頻率通常與晶片厚度成反 比，傳統機械加工最適合的頻率范圍為 1-40MHz（對應晶片厚度 0.04mm）。以傳統 方式消費百 MHz 晶振需求將晶片加工至超薄，從而招致呈現穩定性差及易破損的缺 點。因而，消費百兆赫茲高頻晶振通常采用 10MHz 成熟產品作為基準頻率源，并經 過屢次倍頻取得所需信號。但這樣招致電路復雜，相噪損失嚴重。